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AC-DC電源芯片測試難點分析

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文章出處:RAYBET雷竞技下载苹果 責任編輯:admin人氣:-發表時間:2019-05-31 11:25
  raybet雷竞 集成度高,功能強大,它複雜的內部結構給她的性能、參數測試帶來了很大的難度,那些AC-DC芯片測試又有那些難點呢,下麵跟著RAYBET雷竞技下载苹果 小編一起來看看:
  
  第一,acdc電源芯片 的內部結構複雜,要對其經行測試,需要對電路的工作原理、電路的結構組成以及各組成部分之間的關係、測試參數的原理和相對應的測試方法等多方麵有深刻的理解和認識。
  
  第二,AC-DC芯片內部包含了許多相對獨立的部分,要實現對每個部分相關參數進行測試,都需要設計專用的測試線路來囊括所有的測試項目,所以就需要測試係統有相應的配套,例如測試時間參數的測量路線(TMU)、測試輸出特性的精密量單元(PMU)等,而且AC-DC芯片需的參數包含了不同類型的物理量,如頻率量、時間量、電壓量、電流量等,另外還包含某些需要掃描測試的閥值量,因此再測試係統中必須具備針對於不同部分和不同物理量的專用測試路線。
  
  第三,由於acdc開關電源芯片內部各組成模塊是相互的作用,所以某一項參數經行測試時,需要考慮其他模塊對其的影響,這就是需要考慮整個器件的工作模式以及各個子模塊在工作模式下的相互關係。
  
  第四,由於AC-DC芯片的某些參數測試比較敏感,要求測試路線與被測電路之間的外圍不能距離太大,或者在測試的過程中,某些管腳的一些小狀態就會影響到該參數的測試準確性,甚至導致功能消失,所以在設計測試方案的時候就需要考慮一些控製為的外圍路線如何處理額問題。
  
  基於以上分析和其他的一些因素,目前國內還沒有能夠全麵完成所有AC-DC電源管理芯片測試的一套理想測試係統,目前的設備基本上隻能測試基本的直流參數、時間參數等,並不能很好的滿足AC-DC芯片生產和應用的測試要求。
 
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